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產(chǎn)品分類
產(chǎn)品文檔:
XTDIC三維全場應(yīng)變測量分析系統(tǒng)
提供測量范圍內(nèi)的三維全場應(yīng)變變形及位移測量
產(chǎn)品特點(diǎn)
系統(tǒng)優(yōu)勢
1、非接觸測量
2、直接測量全場應(yīng)變、位移、變形、形貌
3、相關(guān)圖像數(shù)據(jù)可反復(fù)分析處理,以實(shí)現(xiàn)不同研究目的,而無須重復(fù)試驗(yàn),節(jié)約經(jīng)濟(jì)和時(shí)間成本
4、直接測量全場振幅、振動(dòng)信息
5、可用于實(shí)時(shí)監(jiān)測
6、試驗(yàn)過程可追溯、可評(píng)估
產(chǎn)品介紹
新拓三維XTDIC采用高精度的數(shù)字圖像相關(guān)算法,為試驗(yàn)者提供非接觸式動(dòng)態(tài)全場三維應(yīng)變及位移測量。
DIC技術(shù)在室內(nèi)室外的普通環(huán)境均可使用,應(yīng)變測量范圍從0.005%-2000%以上,配合不同的圖像采集硬件,測量對(duì)象尺寸可以從幾mm2-幾十m2,更大測量幅面也可定制,理論上在此測量范圍內(nèi)只要能獲取高質(zhì)量圖像,即可進(jìn)行精確的應(yīng)變和變形測量。
XTDIC三維全場應(yīng)變測量分析系統(tǒng)可與雙目體顯微鏡技術(shù)結(jié)合,實(shí)現(xiàn)微小物體變形過程中表面的三維坐標(biāo)、位移場及應(yīng)變場的測量。